Metrology And Measurement Systems

Metrology And Measurement Systems英文简介

Contributions are invited on all aspects of the research, development and applications of the measurement science and technology.

The list of topics covered includes: theory and general principles of measurement; measurement of physical, chemical and biological quantities; medical measurements; sensors and transducers; measurement data acquisition; measurement signal transmission; processing and data analysis; measurement systems and embedded systems; design, manufacture and evaluation of instruments.

The average publication cycle is 6 months.

Metrology And Measurement Systems中文简介

《Metrology And Measurement Systems》是一本由Polish Academy of Sciences, Committee on Metrology and Scientific Instrumentation出版商出版的专业工程技术期刊，该刊创刊于1988年，刊期Quarterly，该刊已被国际权威数据库SCIE收录。在中科院最新升级版分区表中，该刊分区信息为大类学科：工程技术 4区，小类学科：仪器仪表 4区；在JCR（Journal Citation Reports）分区等级为Q4。该刊发文范围涵盖仪器仪表等领域，旨在及时、准确、全面地报道国内外仪器仪表工作者在该领域取得的最新研究成果、工作进展及学术动态、技术革新等，促进学术交流，鼓励学术创新。2021年影响因子为1.009，平均审稿速度较慢,6-12周。

中科院分区最新升级版（当前数据版本：2021年12月最新升级版）

大类学科	分区	小类学科	分区	Top期刊	综述期刊
工程技术	4区	INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表	4区	否	否

JCR分区（当前数据版本：2021-2022年最新版）

JCR分区等级	JCR所属学科	分区	影响因子
Q4	INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION	Q4	1.009

期刊指数

影响因子	h-index	Gold OA文章占比	研究类文章占比	OA开放访问	平均审稿速度
1.009	24	0.00%	98.00%	开放	较慢,6-12周

IF值(影响因子)趋势图